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簡要描(miao)述:便(bian)(bian)攜式(shi)紫外(wai)線強(qiang)(qiang)度計UV-B采用(yong)SMT貼片技術(shu),選用(yong)高(gao)精(jing)度低功耗數字芯片,儀器(qi)外(wai)殼為(wei)流線型(xing)設計,探測器(qi)經過(guo)嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩定,適用(yong)性強(qiang)(qiang)。便(bian)(bian)攜式(shi)紫外(wai)線強(qiang)(qiang)度計適用(yong)于光化學、高(gao)分(fen)子材(cai)料老化、紫外(wai)光源(yuan)、以及大規(gui)模集成電路光刻等領域的紫外(wai)輻照度測量工作(zuo)。便(bian)(bian)攜式(shi)紫外(wai)線強(qiang)(qiang)度計廣泛運用(yong)衛生監督。
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品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 國產 |
便攜式紫外線強度計UV-B執行企業標準Q/HDSDY0003-2014。
便攜式紫外線強度計UV-B型采用SMT貼片技術,選用高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
特(te)點(dian)
光譜及角度特(te)性經(jing)嚴格校正
數字(zi)液晶顯(xian)示,帶背光(guang)
手動(dong)/自動(dong)量程切換
數(shu)字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動(dong)延時關機
有數字保持(chi)
輕觸按鍵操作,蜂鳴提(ti)示
技術標準
項目 | 參數 | 備注 |
波長范圍λ1,峰值波長λp | (230~275)nm,λP=254nm | 用戶二選一 |
波(bo)(bo)長范圍λ2,峰值波(bo)(bo)長λp | (275~330)nm,λP=297nm | |
輻照(zhao)度測量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
紫外帶外區雜光(guang) | UV254<0.1%,UV297<0.05% | |
相(xiang)對(dui)示(shi)值誤差 | ±8%(相(xiang)對于(yu)NIM標準) | |
角(jiao)度響應特性 | ±5% (α≤10°) | |
線(xian)性誤差 | ±1% | |
換檔誤(wu)差 | ±1% | |
短期不(bu)穩定性 | ±1%(開(kai)機30min后) | |
疲勞特性 | 衰減量<2% | |
零值誤差 | 滿量程的±1% | |
響(xiang)應時間(jian) | <1秒 | |
使用環境 | 溫度(du)(0~40)℃;濕度(du)<85%RH | |
尺(chi)寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源(yuan) | 6F22型9V積層電(dian)(dian)池(非(fei)充電(dian)(dian)電(dian)(dian)池) | |
整機功耗(hao) | <0.1VA |
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